透射电镜和扫描电镜的光路有何不同

透射电镜和扫描电镜是两种不同类型的电子显微镜，它们的光路有何不同呢？

透射电镜（Transmission Electron Microscope，简称TEM）是一种使用电子束而不是光束成像的电子显微镜。TEM 通过将电子束从样品表面扫描并通过透镜系统聚焦，产生一个高分辨率的图像。TEM 透镜系统的主要部件是两个反射镜和一个位于样品和探针之间的电场。

扫描电镜（Scanning Electron Microscope，简称SEM）则是一种使用光束成像的电子显微镜。SEM 利用高能电子束从样品表面扫描，产生一个图像。SEM 系统中的透镜系统与 TEM 相似，但 SEM 使用的电子束能量更高，因此 SEM 可以观察到更厚型的样品。

通过比较透射电镜和扫描电镜的光路，我们可以看到它们之间的显著差异。 TEM 使用电子束而不是光束成像，因此 TEM 可以观察到更厚型的样品。 SEM 使用的电子束能量更高，因此 SEM 可以观察到更细节的样品。

透射电镜和扫描电镜也有一些共同之处。这两种显微镜都使用透镜系统来聚焦电子束或光束。透射电镜和扫描电镜都使用电场来控制电子束或光束的运动。

透射电镜和扫描电镜在光路方面存在显著差异。透射电镜使用电子束成像，可以观察到更厚型的样品，而扫描电镜使用光束成像，可以观察到更细节的样品。 这两种显微镜都使用透镜系统来聚焦电子束或光束，并使用电场来控制电子束或光束的运动。

专业提供fib微纳加工、二开、维修、全国可上门提供测试服务，成功率高！